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扫描电子显微镜

Inspect

Inspect™ 扫描电子显微镜 (SEM) 系列拥有先进的样本室真空技术,并依托于 FEI 一流的电子光学和样本通量技术。在检测、表征、过程控制和失败分析都非常重要的情况下,Inspect S50 和 Inspect F50 型号的高分辨率成像是必备条件。直观的用户界面和软件,其中记录和存储图像所需的所有功能均可通过工具栏直接访问,非常适于多用户环境;同时,全开放载物台可容纳各种样本夹,在多种用途中增加价值并提高灵活性。

Inspect 设备系列包括两种扫描电子显微镜,分别为钨丝 SEM 和 FEG SEM,以供在例行需要高分辨率成像的情况下使用。这两种扫描电子显微镜经济实惠、灵活先进,采用 FEI 先进技术制造,对于处理材料表征和检测应用的工业制造商与研究人员非常有用。 

Inspect 的材料科学应用

Inspect F50 专为研究多种材料并表征其结构与成分的主流需求而设计,易于使用,提供高分辨率的稳定平台,可满足大部分研究需求。易于使用的界面提供准确快速的数据收集;表面和成分图像可与快速元素分析结合,以便确定材料属性和元素成分。在许多领域中,FEG SEM 的高分辨率和高强度电流有助于满足生成高质量图像和实现快速分析的要求。Inspect F50 是这些基本研究应用的主流、灵活解决方案。

Inspect S50 是行业领先的低真空扫描电子显微镜 (SEM) 平台,采用热发射电子光学部件,提供高分辨率功能。低真空设置对于非导电和严重污染材料的检测与表征尤其有用,该系统还能最大限度降低样本制备的复杂性,实现无电荷成像与分析。

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